CH-1-S,手式薄膜测厚仪
日期:2012-03-31 15:01
价格:未填
型号:CH-1-S
发货:3天内
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公司:锡晶测厚仪 锡晶硬度计
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详细介绍


CH-1-S,手式薄膜测厚仪 ,价格



一、产品简介:
本测厚议适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。
二、技术参数:
1、量 程:0-1mm 
2、分 度 值:0.001mm
3、上测头曲率半径:15-50mm
4、测头对试样施加负荷我:0.1-0.5N
5、测量精度:100m以内<1m
100-250m<2m
250m<3m

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