YB3114IC在线/离线数字测试系统









测试种类:常用TTL、CMOS、GAL、RAM、EPROM、CPU、及可编程器件等;被测芯片脚数:40脚以下;测试速度:500KHz/Pin;最大输出电流:每引脚100mA;测试方法:小规模集成电路(SST)、中规模集成电路(MSI),与标准库比较大规模集成电路(LSI)
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