CH-1-S,手式薄膜测厚仪

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型号：	CH-1-S
单价：	面议
最后更新：	2012-03-31
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公司基本资料信息

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产品详细说明

CH-1-S,手式薄膜测厚仪 ,价格

一、产品简介：
     本测厚议适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。
二、技术参数：
    1、量    程：0-1mm　
    2、分度值：0.001mm
    3、上测头曲率半径：15-50mm
    4、测头对试样施加负荷我：0.1-0.5N
    5、测量精度：100μm以内＜1μm
                      100-250μm＜2μm
                          250μm＜3μm

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